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    Best Paper Award DATE 2014

    10.04.2014 13:51
    Im Rahmen der diesjährigen „Design Automation & Test in Europe“ (DATE 2014) Konferenz wurde der Artikel "Efficient SMT-based ATPG for Interconnect Open Defects" von Dominik Erb, Karsten Scheibler, Matthias Sauer und Bernd Becker vom Programmkomitee mit dem Best Paper Award im Bereich „Test Generation, Simulation, Diagnosis and System Test” ausgezeichnet.



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