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    Best Paper Award DATE 2017

    06.04.2017 16:20
    Im Rahmen der diesjährigen "Design Automation & Test in Europe" Konferenz (DATE '17) wurden Jan Burchard, Dominik Erb, Adit D. Singh, Sudhakar M. Reddy und Prof. Bernd Becker (Professur für Rechnerarchitektur) mit dem Best Paper Award ausgezeichnet. DATE '17 BPA Ceremony

    DATE '17 BPA Ceremony

    Bisherige Methoden zur Erkennung von dauerhaft nicht leitenden Transistoren beachten in der Regel nicht die Problematik von Glitches, die ein Testmuster invalidieren können. In dem in dieser Arbeit mit dem Titel "Fast and Waveform-Accurate Hazard-Aware SAT-Based TSOF ATPG" vorgestellten SAT-basierten Verfahren zur Erzeugung von Testmustern dagegen wird das Zeitverhalten des Schaltkreises akkurat abgebildet, um ausschließlich Testmuster zu erzeugen, die garantiert glitchfrei sind. Durch eine effiziente, hybride Codierung wird auch bei sehr großen Schaltkreisen eine hohen Fehlerabdeckung mit nur sehr wenigen Timeouts bei zugleich geringer Laufzeit erreicht. 



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